不同類型 探針的應用場景具體區別，探針按結構、性能及功能可分為多個核心類型，其設計差異直接決定了適用場景的邊界，以下是主流類型的具體區別：

1. 彈簧針（Pogo Pin）：通用型測試首選

結構特點：內置彈簧式伸縮結構，針尖多為鍍金 / 鍍鎳材質，接觸電阻低（≤50mΩ），常用的探針有：P100探針、PL75探針、P160探針、P50燒錄探針等。

應用場景：

通用電子設備測試（如手機、電腦主板 ICT 測試）、電路板功能驗證；高密度 PCB 測試（針徑可至 0.1mm），適合焊盤間距小（≤0.3mm）的場景；需反復插拔的場景（如生產線批量測試、設備接口連接）。

2. 高頻探針：高速信號傳輸專屬

結構特點：采用低介電常數絕緣材料，針芯與外殼同軸設計，阻抗嚴格匹配（50Ω/100Ω），電感和電容極小。

核心優勢：信號衰減低、相位穩定性好，可支持 GHz 級頻率傳輸。

應用場景：

5G 通信設備、射頻模塊測試（如基站主板、衛星通信設備）；

高速接口測試（USB 3.1、HDMI 2.1、DDR5 內存）；邊界掃描測試、微波組件性能驗證。

3. 大電流探針：高功率場景適配

結構特點：大電流探針核心是低阻傳導與耐流設計，含針管、針頭、彈簧，針頭多鍍金 / 鈹銅，彈簧高彈性，整體緊湊，適配大電流場景且接觸穩定，額定電流可達 10A-200A，部分型號帶散熱孔。

核心優勢：載流能力強、散熱性能優，接觸電阻穩定（≤30mΩ），可避免大電流下發熱損壞。

主要應用場景

電池測試領域，包括鋰電池、動力電池的容量、充放電循環測試，以及電池包的連接點導通檢測。

工業設備與新能源設備，如變頻器、逆變器、光伏組件等，用于生產過程中的功能檢測和老化測試。

消費電子快充測試，針對支持大電流快充的手機、平板等設備，驗證充電接口及內部電路的大電流承載能力。