不同類型的測(cè)試探針具有各自獨(dú)特的特點(diǎn)，這些特點(diǎn)決定了它們?cè)诓煌瑴y(cè)試環(huán)境中的應(yīng)用效果和適用性，以下是一些常見類型的測(cè)試探針及其特點(diǎn)：

一. 半導(dǎo)體測(cè)試探針

1.應(yīng)用領(lǐng)域：半導(dǎo)體測(cè)試探針主要應(yīng)用于芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓測(cè)試和半導(dǎo)體成品測(cè)試。

2. 結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：由針頭、針尾、彈簧和外管四個(gè)基本部件組成，通常采用精密的彈簧結(jié)構(gòu)和鍍金表面處理。

3.工作頻率：分為同軸探針和普通探針，前者用于對(duì)測(cè)試頻率敏感的環(huán)境，后者用于信號(hào)衰減不敏感的測(cè)試環(huán)境。

二. 標(biāo)準(zhǔn)ICT和FCT探針

1. 應(yīng)用范圍：主要用于檢測(cè)負(fù)載的PCB板和服務(wù)器板。

2. 探針范圍：從040mil到P189mil不等，覆蓋了多種測(cè)試需求。

三. 螺紋/旋轉(zhuǎn)探針

1. 應(yīng)用場(chǎng)景：適用于測(cè)試線束或電纜塊的端子，常用于汽車線束測(cè)試。

2.測(cè)試間距：可覆蓋50mil到150mil的測(cè)試間距，能夠有效防止探針移位。

四. 轉(zhuǎn)接針/界面針

1. 定制特性：根據(jù)測(cè)試夾具或測(cè)試儀定制的專用插腳。

2. 功能用途：主要用于連接不同的測(cè)試設(shè)備和接口。

五. 高電流探針

1. 設(shè)計(jì)特點(diǎn)：用于測(cè)試功率大、電流大的模塊，指定電流可達(dá)10-100安培甚至更高。

2. 應(yīng)用場(chǎng)景：廣泛應(yīng)用于電源模塊和高功率電子設(shè)備的測(cè)試。

六. 電池探針

1.應(yīng)用領(lǐng)域：用于充電產(chǎn)品的電流充電測(cè)試。

2.質(zhì)量要求：高質(zhì)量的電池探頭常用于照相設(shè)備或磁性連接器。